Merk: NANBEI
Model: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), piranti analisis sing bisa digunakake kanggo nyinaoni struktur permukaan bahan padhet, kalebu insulator.Iki nyinaoni struktur permukaan lan sifat-sifat zat kanthi ndeteksi interaksi interatom banget banget ing antarane permukaan sampel sing bakal diuji lan unsur sensitif mikro-gaya.